原子力显微镜AFM工作原理

分析原理：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，由于针尖原子与样品表面原子间存在极微弱的作用力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将在垂直于样品的表面方向起伏运动。从而可以获得样品表面形貌的信息

谱图的表示方法：微悬臂对应于扫描各点的位置变化

提供的信息：样品表面形貌的信息