技术文章_第(22)页－来亨科技（北京）有限公司

2022
11.21

激光粒度仪遮光率的定义及两种控制方法

遮光率是指被颗粒散射和吸收掉的光占光总量的百分比，是激光粒度测试中用来表示悬浮液光学浓度的一个量。遮光率的计算方法是原始光强I0与加入样品后探测器中心点的光强Ii的差除以I0再乘以100%得到，即遮光率=（I0-Ii）/I0×100%。一般遮光率的范围在10±5之间。在实际粒度测试时，遮光率是复散射和代表性之间的平衡点，即把复散射减到小，又能保证样品的代表性。为了这个目的，遮光率的范围与样品的粒度有关：粒度越大，遮光率越大；粒度越小，遮光率越小。常见遮光率与粒度...
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2022
11.21

使用X射线衍射仪时对不同物料的要求

X射线衍射XRD工作原理：分析原理：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量原子散射波的叠加，互相干涉而产生大强度的光束称为X射线的衍射线。X射线衍射仪技术（XRD）注意事项：（1）固体样品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可以用几块粘贴一起。（2）对于片状、圆拄状...
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2022
11.21

XRD技术在测量颗粒细小极易形成团纳米颗粒中的优势

X射线衍射仪技术（XRD）可为客户解决的问题：（1）当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。（2）很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。（3）新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。（4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。（5）纳米材料由于颗粒细小,极易形成团...
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2022
11.21

粘壁现象的起因、结果及解决办法

下面从粘壁现象的起因、结果、解决办法依次谈起：喷雾干燥过程中，干燥的物料粘附在干燥塔内壁上的现象，一般称为粘壁现象。粘壁现象是喷雾干燥实验中必须考虑的一个重要问题。粘壁现象对实验的影响：★粘壁物料长时间停留干燥塔在内壁，可能被烧焦或变质，影响样品质量；★粘壁物料结块落入收料瓶的样品中，使样品不能达到所规定的湿含量；★结块物料落入样品中，使样品不得不增加粉碎过程，以达到一定的细度；★喷雾干燥过程中清除粘壁物料，不得不中途停止实验，影响了实验有效操作时间；粘壁现象⼤体分为三种情况...
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2022
11.21

透射电子和扫描电子显微技术应用原理

透射电子显微技术TEM应用原理：分析原理：高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成衬度，显示出图象谱图的表示方法：质厚衬度象、明场衍衬象、暗场衍衬象、晶格条纹象、和分子象提供的信息：晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等扫描电子显微技术SEM应用原理：分析原理：用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象谱图的表示方法：背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等提供的信息：...
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2022
11.14

制备球型二氧化硅胶的方法及纳米微球的应用

制备球型二氧化硅胶的第二代技术主要依赖喷雾干燥法和溶胶--凝胶法。纳微创造性地把有机高分子微球的制备技术嫁接到无机二氧化硅的微球制造上，一举突破了多孔二氧化硅微球材料粒径大小和粒径分布控制技术难题，既解决了国外垄断技术壁垒，又绕开了复杂的筛分工艺，而且具有生产效率高，质量稳定性好，固废少，绿色环保等特点。硅胶色谱填料粒径分布系数CV值：粒径分布系数CV值越小，微球均匀性和一致性越好，性能也越好。纳米微球在材料界发挥着各种各样的关键作用，在平板显示领域，粒径高度均一的微球可作为...
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2022
11.14

真空干燥箱的正确使用及常规保养方法

真空干燥箱的正确使用方法：1、需干燥处理的物品放入真空干燥箱内，将箱门关上，并关闭放气阀，开启真空阀，再开启真空泵电源开始抽气，使箱内达到用户所需真空度，关闭真空阀，再关闭真空泵电源开关。2、把真空干燥箱电源开关拨至“I”处，设定所需温度，箱内温度开始上升，当箱内温度接近设定温度时，加热指示灯忽亮忽熄，反复多次，一般120min以内搁板层面进入恒温状态。3、当所需工作温度较低时，可采用二次设定方式，如所需工作温度60℃，*次可以设定50℃，等温度过冲开始回落后，再第二次设定6...
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2022
11.14

来亨科技化学合成仪六大使用注意事项

来亨科学仪器有三款氮吹仪，请根据实验需要选择。使用注意事项：1使用仪器前需认真阅读化学合成反应仪《使用说明书》。2总电源开关在仪器后部电源线旁，仪器使用完毕后需关闭总电源。3如需拔、插冷凝回收器上的气、水管时，必需先将气、水嘴旋下后再操作，以免损坏冷凝器。4在不使用低温反应时，请将冷模块取下。（冷罩变可取下）。5本仪器承正压很低，不可以关闭所有气阀进行反应，以免发生危险。6取下试管倾斜，将搅拌子滑入试管，禁止试管在仪器位上直接投入搅拌子。
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