技术文章_第(396)页－北京来亨科学仪器有限公司

2018
9.18

纳米颗粒追踪表征的工作原理

纳米颗粒追踪表征的工作原理：分析原理：纳米颗粒追踪分析技术，利用光散射原理，不同粒径颗粒的散射光成像在CCD上的亮度和光斑大小不一样，依此来确定粒径尺寸;合适浓度的样品均质分散在液体中可以得出粒径尺寸分布和颗粒浓度信息，准确度非常高。
查看全文
2018
9.18

X射线衍射仪技术（XRD）注意事项

X射线衍射仪技术（XRD）注意事项：（1）固体样品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可以用几块粘贴一起。（2）对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常，需提供测试方向。（3）对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。（4）粉末样品要求磨成320目的粒度，直径约40微米，重量大于5g。
查看全文
2018
9.18

X射线衍射仪技术（XRD）可为客户解决的问题

X射线衍射仪技术（XRD）可为客户解决的问题：（1）当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。（2）很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。（3）新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。（4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。（5）纳米材料由于颗粒细小,极易形成团...
查看全文
2018
9.17

X射线衍射XRD工作原理

X射线衍射XRD工作原理：分析原理：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量原子散射波的叠加，互相干涉而产生大强度的光束称为X射线的衍射线。
查看全文
2018
9.17

电感耦合高频等离子体ICP工作原理

电感耦合高频等离子体ICP工作原理分析原理：利用氩等离子体产生的高温使用试样*分解形成激发态的原子和离子，由于激发态的原子和离子不稳定，外层电子会从激发态向低的能级跃迁，因此发射出特征的谱线。通过光栅等分光后，利用检测器检测特定波长的强度，光的强度与待测元素浓度成正比。
查看全文
2018
9.17

原子吸收光谱AAS工作原理

分析原理：通过原子化器将待测试样原子化，待测原子吸收待测元素空心阴极灯的光，从而使用检测器检测到的能量变低，从而得到吸光度。吸光度与待测元素的浓度成正比。
查看全文
2018
9.17

扫描隧道显微镜STM工作原理

分析原理：隧道电流强度对针尖和样品之间的距离有着指数依赖关系，根据隧道电流的变化，我们可以得到样品表面微小的起伏变化信息，如果同时对x-y方向进行扫描，就可以直接得到三维的样品表面形貌图，这就是扫描隧道显微镜的工作原理。谱图的表示方法：探针随样品表面形貌变化而引起隧道电流的波动提供的信息：软件处理后可输出三维的样品表面形貌图
查看全文
2018
9.17

原子力显微镜AFM工作原理

分析原理：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，由于针尖原子与样品表面原子间存在极微弱的作用力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将在垂直于样品的表面方向起伏运动。从而可以获得样品表面形貌的信息谱图的表示方法：微悬臂对应于扫描各点的位置变化提供的信息：样品表面形貌的信息
查看全文

共 3839 条记录，当前 396 / 480 页首页上一页下一页末页跳转到第页