技术文章_第(375)页－北京来亨科学仪器有限公司

2018
9.18

X射线衍射仪技术（XRD）注意事项

X射线衍射仪技术（XRD）注意事项：（1）固体样品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可以用几块粘贴一起。（2）对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常，需提供测试方向。（3）对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。（4）粉末样品要求磨成320目的粒度，直径约40微米，重量大于5g。
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2018
9.18

X射线衍射仪技术（XRD）可为客户解决的问题

X射线衍射仪技术（XRD）可为客户解决的问题：（1）当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。（2）很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。（3）新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。（4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。（5）纳米材料由于颗粒细小,极易形成团...
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2018
9.17

X射线衍射XRD工作原理

X射线衍射XRD工作原理：分析原理：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量原子散射波的叠加，互相干涉而产生大强度的光束称为X射线的衍射线。
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2018
9.17

电感耦合高频等离子体ICP工作原理

电感耦合高频等离子体ICP工作原理分析原理：利用氩等离子体产生的高温使用试样*分解形成激发态的原子和离子，由于激发态的原子和离子不稳定，外层电子会从激发态向低的能级跃迁，因此发射出特征的谱线。通过光栅等分光后，利用检测器检测特定波长的强度，光的强度与待测元素浓度成正比。
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2018
9.17

原子吸收光谱AAS工作原理

分析原理：通过原子化器将待测试样原子化，待测原子吸收待测元素空心阴极灯的光，从而使用检测器检测到的能量变低，从而得到吸光度。吸光度与待测元素的浓度成正比。
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2018
9.17

扫描隧道显微镜STM工作原理

分析原理：隧道电流强度对针尖和样品之间的距离有着指数依赖关系，根据隧道电流的变化，我们可以得到样品表面微小的起伏变化信息，如果同时对x-y方向进行扫描，就可以直接得到三维的样品表面形貌图，这就是扫描隧道显微镜的工作原理。谱图的表示方法：探针随样品表面形貌变化而引起隧道电流的波动提供的信息：软件处理后可输出三维的样品表面形貌图
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2018
9.17

原子力显微镜AFM工作原理

分析原理：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，由于针尖原子与样品表面原子间存在极微弱的作用力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将在垂直于样品的表面方向起伏运动。从而可以获得样品表面形貌的信息谱图的表示方法：微悬臂对应于扫描各点的位置变化提供的信息：样品表面形貌的信息
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2018
9.11

扫描电子显微技术SEM应用原理

扫描电子显微技术SEM分析原理：用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象谱图的表示方法：背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等提供的信息：断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等
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